Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經(jīng)把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上，用于修復部分此類問題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控制器。CPU仍然是主要的處理器件，附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見于成本敏感性產(chǎn)品中，但也在低級任務中用作小型協(xié)處理器，以減輕主處理器的負擔，從而提升效率。另一方面FPGA也正在朝著類似的目標前進，雖然是從另一個方向。賽靈思和Altera多年來一直在添加軟硬核處理器以創(chuàng)建片上系統(tǒng)。

0-100℃恒溫箱參數(shù)：

任何一起在使用過程中都可能操作失誤或者使用方法不當，造成測試數(shù)據(jù)錯誤，儀器的保費損害，為了增加使用的壽命和儀器的度我們應該從使用把關(guān)。不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)無損檢測的特點就是能在不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)的前提下進行檢測，所以實施無損檢測后，產(chǎn)品的檢查率可以達到。并不是所有需要測試的項目和指標都能進行無損檢測，無損檢測也有自身的局限性。某些試驗只能采用破壞性試驗，在目前無損檢測還不能代替破壞性檢測。

當你無法清楚了解測量儀器所導出測量數(shù)據(jù)的敏感性級別和精度，便很難相信這些數(shù)據(jù)，而熱像儀常常會被歸到這一測量儀器的類別之中。而且，在討論熱像儀的測量精度時，常常會用到一些令人困惑不已、產(chǎn)生誤解的復雜術(shù)語和行話。終使一些研究人員完全對這些工具繞行而走。不過也他們會與其在研發(fā)熱測量應用所具有的潛在優(yōu)勢失之交臂。在下面的討論中，我們會避免使用術(shù)語，以直白的語言闡述熱像儀在測溫上的不確定性，讓你對此有基本的了解，從而幫助你理解熱像儀標定流程和精度。多路電源通過多通道輸出的輸出功率是大小規(guī)格不等的，所以在實際測試時，工程師就需要購買數(shù)個單通道且不同規(guī)格的電子負載進行測試。除了昂貴的設(shè)備成本以外，占用的空間也非常大，且工程師需要對每臺設(shè)備進行設(shè)置操作，并且無法便捷地同步觀察測試數(shù)據(jù)，很可能很長時間都無法完成幾個模塊的測試，效率很低。所以在實際的工作中，更多的工程師會選擇多通道的電子負載來進行測試，這樣不但工作效率大為提高，測試數(shù)據(jù)也更為。艾德克斯的IT87系列多通道電子負載采用了抽換式模塊設(shè)計，該系列電子負載共有8種型號的模組，從2W到6W，工程師可以自由搭配模塊。

【【標題】案例圖片：

作為電機的“新人”，無刷電機是實名歸的后起之秀，以狂浪之勢涌入，工業(yè)控制，消費電子和汽車電子等高精度控制，“無刷“是不是未來電機的發(fā)展趨勢？本文以案例的形式扒一扒無刷電機那些事。近年來，無刷電機在，工業(yè)控制，消費電子和汽車電子等高精度控制廣泛應用，無刷電機性能的好壞很大程度上取決于電機驅(qū)動器，研發(fā)階段，工程師如何借助示波器快速、便捷、真實的對驅(qū)動器信號進行分析？本文主要介紹ZDS454Plus數(shù)椐挖掘型示波器對電機驅(qū)動器的典型測試及案例分析。一個捕獲周期包括采樣時間和死區(qū)時間，模擬信號通過ADC采樣量化變轉(zhuǎn)為數(shù)字信號同時存儲，整個采樣存儲過程的時間稱為采樣時間。示波器必須對存儲的數(shù)據(jù)進行測量運算顯示等處理，才能開始下一次的采樣，這段時間稱為死區(qū)時間。死區(qū)時間內(nèi)，示波器并沒有進行波形采集。一個捕獲周期完成就會進入下一個捕獲周期。捕獲周期的倒數(shù)就是波形刷新率，如.1中所示，波形刷新率=1/(Tacq+Tdeat)。.1示波器采樣過程示意圖影響波形刷新率的因素有哪些?采樣時間和死區(qū)時間如.1中所示，波形刷新率為Tacq(采樣時間)和Tdeat(死區(qū)時間)的倒數(shù)，其中采樣時間由示波器屏幕的采樣窗格決定，用水平時基檔位乘以水平方向格數(shù)，當水平時基確定后，采樣時間就會固定。

征能ES31接地電阻儀（簡易型）具有：3線法接地電阻、接地電壓測量。手動換檔，數(shù)據(jù)上傳功能，報警功能，數(shù)據(jù)存儲5組，接地電阻量程：.Ω～3Ω，接地電壓量程：～6V等。此為測量路燈的其中一個實例。準備測量的路燈打開征能ES31接地電阻儀（簡易型）儀表箱，準備接線按下圖接線，紅，黃，綠線，分別相差5米。此為精密三線法測量。打接地棒，將紅、黃測試線分別鉗在接地棒上將綠色測試線鉗在路燈接地引下線上測試線按對應顏色與主機接線接線完成，準備測試將旋轉(zhuǎn)開關(guān)旋3Ω檔按紅色TEST鍵開始測試儀表測試1秒中測出接地電阻值為6.4Ω，規(guī)定路燈1Ω以下。開發(fā)供電的各公司，會進行分別讓雙方線圈移動的同時對充電效果（供電效率）評價的試驗。之前各公司所使用的評價方法是按照標準手動測量線圈所在的地方。位置校對的精度較差，測量的再現(xiàn)性較低。而且，手動進行測量的工作效率也不高。這次全新發(fā)售的TS2400可以自動進行充電評價中所需的測量工作，能夠解決再現(xiàn)性和效率方面的問題。使用用途充電設(shè)備的工廠（汽車、家電、移動設(shè)備制造商）中的評價試驗。